EN 60749-9-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记耐久性
作者:标准资料网
时间:2024-05-20 17:38:11
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part9:Permanenceofmarking(IEC60749-9:2002);GermanversionEN60749-9:2002
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记耐久性
【标准号】:EN60749-9-2002
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;作标记;电子设备及元件;清晰度;环境试验;半导体器件;集成电路;气候试验;持久性;电学测量;试验;元部件;定义;气候;半导体;电子工程;电气工程
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Legibility;Marking;Mechanicaltesting;Permanence;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记耐久性
【标准号】:EN60749-9-2002
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-04
【实施或试行日期】:2003-04-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:机械试验;作标记;电子设备及元件;清晰度;环境试验;半导体器件;集成电路;气候试验;持久性;电学测量;试验;元部件;定义;气候;半导体;电子工程;电气工程
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Definition;Definitions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Legibility;Marking;Mechanicaltesting;Permanence;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:英语
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